如果制程很稳定的则将形成一种固定形状称为分布，分布有下列三种不同的表征特点即：位置，分布，形状。如下图所示：
以下是某个参数的CPK分析结果：
特点是：分布过宽，也即比较离散，在数据特征上看就是标准偏差值，即STDEV较大，所以直接导致的结果就是整体CPK会较低，在这个案例中，整体CPK值为：0.719；
组内CPK为0.696。
我们来查看其控制图，每组样本数为5，从图中可以看出来，工序是比较稳定的，虽然工序能力比较低。
原始数据如下：
5.3795.6515.8315.2425.690
5.5985.1275.2465.7435.230
5.7975.6305.4225.4755.002
5.4505.2305.2815.1405.829
5.4235.2785.4455.1935.406
5.3925.2475.8175.5405.197
5.3675.4305.3675.7085.665
5.8925.4225.5315.1605.344
5.5565.2795.4345.4725.825
5.4575.5065.4165.1985.547
5.6095.0825.2935.1275.493
5.9325.5215.6225.9525.461
5.0945.9885.6585.6105.378
5.4165.3845.6905.4125.543
5.4675.6495.6545.0025.446
5.7015.5915.4865.4515.498
5.4965.5855.8035.6935.437
5.9415.6685.7575.2995.587
5.6575.1035.2965.8345.692
5.1835.5825.3315.7035.652